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  • 檢索結果:共6筆資料 檢索策略: "Automatic Test Equipment".ekeyword (精準)


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    1

    自動測試機台於奈秒尺度切換特性量測之錯誤關聯性更正研究
    • 電子工程系 /106/ 碩士
    • 研究生: 林廣憲 指導教授: 邱煌仁
    • 本論文旨在討論自動測試機台(Automatic Test Equipment, ATE)在奈秒尺度切換特性(Switching Characteristics)的錯誤關聯性,也就是量測結果和規格書定…
    • 點閱:281下載:3

    2

    方形扁平無引腳積體電路散熱片之測試改善
    • 電子工程系 /107/ 碩士
    • 研究生: 黃百吉 指導教授: 邱煌仁
    • 本論文旨在討論自動測試機台,在針對方形扁平無引腳積體電路包裝之散熱片不同測試方式,提升整體測試良率,減少成本支出,探討以提供電流或電壓測試方法,達到測試站將不良品排除。選取用汽車材料專用之方形扁平無…
    • 點閱:267下載:5
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    3

    基於WoT 框架與GraphQL通訊協定之交流電源自動化測試模擬
    • 自動化及控制研究所 /111/ 碩士
    • 研究生: 蘇力昇 指導教授: 蔡明忠
    • 在新能源技術與物聯網(Internet of Things, IoT)迅速發展的背景下,可程式交流電源自動化測試設備推陳出新。本研究運用網路物聯網(Web of Things, WoT),參照了可編…
    • 點閱:238下載:0
    • 全文公開日期 2026/08/22 (校外網路)
    • 全文公開日期 2026/08/22 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    4

    跨國企業多國專利申請策略比較分析-以半導體測試設備商為例
    • 專利研究所 /109/ 碩士
    • 研究生: 王呈哲 指導教授: 管中徽
    • 知識經濟發展至今,智慧財產權的應用、保護、管理已逐漸地越來越重要,我國的半導體產業能夠強盛並且帶動經濟,與投入大量資源與人力在研發上並取得關鍵技術是正相關的,對於這些企業來說,不論是不是放眼國際,專…
    • 點閱:340下載:14

    5

    以現場可程式化閘陣列實現內建自我測試數位至時間轉換器
    • 電子工程系 /111/ 碩士
    • 研究生: 陳柔羽 指導教授: 陳伯奇 黃仁宏
    • 本論文設計一個具備寬動態範圍與高解析度三維數位至時間轉換器架構,同時提出一個以延遲迴繞法設計的時間至數位轉換器,組成一個具備內建自我測試(Built-In Self Test, BIST)電路的數位…
    • 點閱:275下載:0
    • 全文公開日期 2028/08/09 (校內網路)
    • 全文公開日期 2033/08/09 (校外網路)
    • 全文公開日期 2033/08/09 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    6

    以現場可程式化閘陣列實現鎖相迴路延遲環繞矩陣法及精密相位偏移控制法之高性能數位對時間轉換器
    • 電子工程系 /108/ 碩士
    • 研究生: 王瑞霆 指導教授: 陳伯奇
    • 以FPGA平台實現時間轉換器這個領域已經發展了多年,由於近年來物聯網及環境感測器的需求的大幅成長,與該領域相關的研究又以以TDC電路為大宗,在輸出精確時間訊息的DTC電路由於應用上不如TDC豐富,因…
    • 點閱:261下載:0
    • 全文公開日期 2025/08/13 (校內網路)
    • 全文公開日期 2030/08/13 (校外網路)
    • 全文公開日期 2025/08/13 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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