檢索結果:共17筆資料 檢索策略: "電阻式記憶體".ckeyword (精準)
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
本研究以金屬鈦(Titanium, Ti)為上下電極,氧化亞銅(Cuprous oxide, Cu2O)為介電層,利用磁控濺鍍將薄膜沉積於玻璃基材上,並製作出不同中間層厚度之Ti/Cu2O/Ti三層…
2
本研究使用Cu和SiO2靶材以共濺鍍法製備50nm厚之Cu-SiO2薄膜,Cu-SiO2薄膜之Cu/(Cu+Si)原子比為19.9%,經由XPS和TEM之結果可以確認中間層的型態為大小約為4~6nm…
3
本研究以二硫化錸(Rhenium disulfide, ReS2)薄膜為介電層應用於電阻式記憶體,製作Mo/ReS2/Re及Ag/ReS2/Re元件並比較其在電性、傳導機制與切換機制等方面的差異…
4
近年來由於製程技術的進步,行動裝置與物聯網得以迅速發展,對於非揮發性記憶體的需求也隨之上升,現今電阻式記憶體相較快閃式記憶體,擁有更低的功耗、更快的存取操作與更小的晶片面積,且其特殊的物理結構…
5
本研究以Ti及ITO作為電阻式記憶體之電極,並藉由Ti金屬之高氧化勢而自身氧化成TiOx電阻層,因此可在無需額外濺鍍電阻層下製成Ti/ITO與ITO/Ti之電阻式記憶體。 TiN/Ti/TiOx/I…
6
本研究以Al與Al(Cu 5wt%)靶材濺鍍沉積下電極層,以RF與MW電漿氧化的方式成長電阻層,上電極皆以Al濺鍍,製成Al/AlOx/Al、Al/AlOx+CuOx/Al(Cu 5wt%)三層結構…
7
本研究以具有銦錫氧化物(Indium tin oxide,ITO)薄膜的玻璃為基材,反應濺鍍氧化矽中間電阻層,濺鍍摻鋁氧化鋅(Aluminum-doped zinc oxide,AZO)為上電極,製…
8
科技的進步帶動了製程技術的演進,使得行動裝置與高密度的記憶體得以快速發展,因此人們對於非揮發型記憶體的需求也隨之成長,而在眾多的非揮發型記憶體當中,電阻式記憶體具有較快的操作速度、較低的功耗…
9
近年來,深度神經網路 (Deep Neural Network, DNN) 被廣泛的應用在許多領域之中,例如自動駕駛、影像辨識以及生物醫學電子設備等,皆可達到一定的正確率 (Accuracy),而使…
10
專利分析對於專利布局而言是相當重要的事前調查,原因在於分析特定技術領域的專利趨勢,企業可以審視欲申請專利的新穎性;而說明書撰稿人則可以衡量一發明是否符合進步性要求。對企業體每一項產品的研發都所費不貲…