檢索結果:共10筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="高解析度"
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本研究提出一套「高解析度陰影疊紋式量測系統」,此套系統是由LED光源模組、大面積小週期的線性光柵、影像擷取模組及軟體相位解調模組所組成,其系統架構簡單、組裝及調校容易,具低成本的開發優勢。此套量測系…
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本論文提出並架設一個基於光纖法布立-佩羅干涉儀的高解析度及靈敏度的位移感測器,其目的為利用法布立-佩羅干涉儀解決奈米等級的精確度量測。此干涉儀腔體由光纖平行校正器與移動的反射鏡面組成,特別設計高效率…
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本研究提出一套以「雙繞射」為設計概念進行系統開發的雙繞射式雷射光學尺,用以進行位移及旋轉角量測。此套雙繞射式雷射光學尺系統整合外差干涉術、光柵干涉術、雙繞射光路及分光技術等設計概念進行開發,使系統具…
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本論文實現兩個連續漸近式類比數位轉換器。第一個是在0.18微米CMOS製程實現一個十二位元、每秒二千萬次取樣的連續漸進式類比數位轉換器;第二個是在55奈米低功耗CMOS製程實現一個十二位元、每秒六千…
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由於自動化的趨勢,全球都在致力發展取代人力的設備,進而增進產線的效能和降低開發成本。目前許多家廠商發展出非常多功能的自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)…
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本研究提出一套「循環式線性光學尺(CLE)」,此套光學尺是由雷射二極體、光柵(G)、側向位移分光鏡(LBS)、偏極化分光鏡(PBS)、反射鏡(M)、偏振片(P)及IC光偵測器所組成,具光路架構簡單、…
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本研究提出一套以「循環式光路」做為技術核心的新式雷射光學尺量測技術,用以進行精密位移及角位移量測。此套創新的「循環式雷射光學尺」導入了「薩格納克循環式光路」、「雙繞射式光路」及「多自由度光路」等設計…
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本研究提出一套創新的多自由度再繞射式光柵干涉儀,用以同時量測五維度位移及旋轉角度變化量。此套系統是以光柵為技術核心進行開發,同時整合外差干涉術、光柵干涉術、再繞射光路及共面偵測技術等設計之優勢,使系…
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本研究提出一套以「共面偵測」為技術核心進行系統開發的微型化干涉儀,用以進行精準的五自由度位移、旋轉角度及幾何誤差量測。因採共偵測面的光路設計,當待測光柵進行面外位移運動時,干涉儀系統仍可穩定地提供光…