檢索結果：共19筆資料 檢索策略： ckeyword.raw="自動光學檢測"
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隨著電腦視覺技術的發展，越來越多的公司正在用電腦視覺取代人工金屬表面缺陷檢測。然而，傳統的影像處理方法在處理影像時往往面臨巨大的挑戰，包括消除雜訊、消除失真和偵測微小的物體，導致計算效率和檢測精度低…
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛，因此在自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）容易因敏感度提高而出現過篩現象，常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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台灣製藥產業對於藥錠的表面瑕疵檢測多以人力進行檢測，利用人工檢測的方式不但缺乏時間效率，且容易有不穩定及誤判之問題。近年來深度學習的發展快速，使得神經網路也逐漸應用在許多領域。如想基於卷積神經網路(…
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瑕疵數據收集對於新產品而言極其稀少，一直是重要的議題。然而，瑕疵數據集的品質對深度學習有顯著的影響。本研究致力於應用CNN架構之瑕疵檢測模型，以解決瑕疵資料稀缺性的問題。本研究考量產品生產過程中瑕疵…
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自動化檢測系統的技術與設備，其中自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)扮演著重要的角色，目前許多廠商都在致力發展檢測的設備，進而取代人力，達到增加產線的效…
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發光二極體(Light Emitting Diode；LED)顯示看板近年來，大量被應用在戶外廣告、電視牆、道路指示器、動態字幕機等。LED的優點包括高演色性、自發光、視角廣、反應速度快、發光效率高…
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背光源模組藉由擴散板使光源能均勻分佈於LCD面板。於製造過程中，若無法有效檢測含有瑕疵的擴散板，則無法發揮使光源均勻的功能。本研究針對擴散板設計一套自動化光學檢測系統，利用瑕疵的光學特性與影像處理技…
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光譜晶片為應用MEMS(微機電系統製程) 技術製造，其搭載影像感測器即可成為一台微型光譜儀，與市售光譜儀相比，擁有輕量化、可攜帶性、成本低等優勢。光譜晶片上涵蓋狹縫(Slit)、光柵(Grating…
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自動光學檢測 (AOI) 面臨照明不均勻、陰影遮擋和相機視角變化等挑戰，導致漏報。 雖然常見的解決方案採用需要大量訓練數據的卷積神經網路 (CNN)，但這對於 AOI 中的缺陷產品樣本來說通常不切實…