半導體與光電元件檢測教學系統之開發｜國立臺灣科技大學博碩士論文系統

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研究生：	羅念忟 Nien-wen Lo
論文名稱：	半導體與光電元件檢測教學系統之開發 Development of a Semiconductor and Semi-Electric Components Inspection Learning System
指導教授：	鄧昭瑞 Geo-Ry Tang 陳素芬 Su-Fen Chen
口試委員:	修芳仲 Fang-Jung Shiou
學位類別：	碩士 Master
系所名稱：	工程學院 - 機械工程系 Department of Mechanical Engineering
論文出版年：	2011
畢業學年度：	99
語文別：	中文
論文頁數：	95
中文關鍵詞：	半導體與光電元件、檢測、教學系統、問卷調查
外文關鍵詞：	Semiconductor and semi-Electronic components, inspection, teaching material, questionnaire survey
相關次數：	點閱：211 下載：14
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本研究將自動化光學檢測技術導入教學，開發完成之半導體與光電元件檢測教學系統包含LED燈源顏色辨識與發光效率分析、FPC瑕疵檢測、手機面板瑕疵檢測、電阻色碼顏色辨識與裸晶瑕疵檢測等五項實作單元。在課程中，學生能學習機器視覺、影像處理、資料擷取、程式設計與自動化檢測等學理與技術。研究透過問卷調查、學習評量與質性訪談等資料的回饋，深入了解學生對該課程的學習狀況與興趣。經由資料分析，證實本研究之自編量表信、效度與課程實施成效均相當良好。

This study introduces automatic optical inspection technologies into a newly-developed course. The teaching materials include five laboratory units which are LED light color identification and luminance efficiency analysis, FPC defect inspection, cell phone panel defect inspection, resistor color code identification and base die defect inspection. In this course, students are able to learn the theories and skills about machine vision, image process, data acquisition, programming and automatic inspection. This research also conducts questionnaire survey, evaluation and interview to get the feedbacks from the students who took the course. Based on the data available, the reliability and the validity of the questionnaire are verified and the quality of course is approved.

摘要....................................I
Abstract................................II
誌謝....................................III
目錄....................................IV
圖目錄..................................VIII
表目錄..................................XI
第一章緒論............................1
1 研究動機............................1
2 研究目的............................3
3 文獻回顧............................4
4 系統與論文架構......................5
第二章研究方法........................7
1 研究對象與課程安排..................7
2 研究工具............................9
2.1 光學元件..........................10
2.2 機構模組..........................13
2.3 電控系統..........................15
2.4 圖控軟體..........................21
3 研究設計與實施......................22
3.1 問卷設計..........................22
3.2 實作評量..........................25
第三章半導體與光電元件檢測之教學系統..27
1 影像處理基本概念....................27
1.1 濾除雜訊..........................28
1.2 框選範圍..........................28
1.3 顏色比對..........................29
1.4 二值化處理........................29
2 LED燈源顏色辨識與發光效率分析.......29
2.1 實驗內容..........................30
2.2 光學參數介紹......................31
2.3 實體機台圖........................32
2.4 人機介面..........................33
3 FPC瑕疵檢測.........................34
3.1 實驗內容..........................35
3.2 機台實體圖........................37
3.3 人機介面..........................38
4 手機面板瑕疵檢測....................39
4.1 實驗內容..........................39
4.2 照明技術..........................41
4.3 實體機台圖........................44
4.4 人機介面..........................45
5 電阻色碼顏色辨識....................46
5.1 實驗內容..........................46
5.2 樣本比對..........................47
5.3 實體機台圖........................48
5.4 人機介面..........................49
6 裸晶瑕疵檢測........................50
6.1 實驗內容..........................50
6.2 影像型態學........................52
6.3 二維邊緣偵測......................54
6.4 實體機台圖........................56
6.5 人機介面..........................58
第四章研究結果與探討..................59
1 敘述性統計..........................59
2 信效度分析..........................61
3 平均值差異分析......................65
4 單元學習評量研究....................66
5 質性訪談............................68
第五章結論與未來發展..................70
參考文獻................................73
附錄A　前測問卷敘述性統計分析...........77
附錄B  效度分析.........................78
作者簡介................................80

                                

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