本研究工作旨在開發一粒徑介於0.25mm~20mm微小顆粒之光學線性掃瞄影像分析儀，此自動化機械包括粒徑整列機構模組、線性掃瞄（Line Scan）影像擷取模組、影像分析處理模組及電控驅動模組，微小粒徑之顆粒經此分析儀將可自動計算分類，以了解受測物料粒徑分佈特性，經分析後可得知待測物之粒度分佈、平均粒徑、均勻度、圓形度，球形度等資訊。
利用line scan CCD影像處理，取像率可達100%，而且不會有重複和遺失的缺失，解決過去Area scan CCD影像遺漏的問題，來達到礦石粒子全檢，可分析全部顆粒粒徑的數據，使功能更臻完善。

The aim of this study is to develop a pseudo-particle size analysis instrument by optical line scan technology . The developed system composes of four major modules , which are materials feeding module , image acquired module , vision procession module and control unit . The advantages of this system cover total analysis without overloping nor missing of awited particles . The information gathered from the analysis results cover pseudo-particle size distribution , mean size , roundness , sphericity , and uniformity. This is a powerful instrument in any kinds of small particle analysis .

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