檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "Graduate Institute of Management".edept (精準) and ekeyword.raw="Defect classification"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
在半導體製造上需要對製程機台進行即時資料之趨勢監控外,需要更多能精確判斷製程與機台狀態的新製程偵測技術與方法,特別是在先進的12吋晶圓廠上。在半導體製程技術持續的微縮下,製程的飄移或缺陷通常不是單一…
2
本論文主旨在應用影像處理技術與類神經網路準確辨識出ITO導電玻璃的瑕疵種類以及分析四個特徵輸入值對於此類神經網路的準確性作探討。ITO導電玻璃常見瑕疵現象有裂痕、刮痕、粉塵、其他異物等。本論文針對上…