檢索結果:共4筆資料 檢索策略: "Dynamic Measuring".ekeyword (精準)
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本研究改良既有之非接觸式雷射平行結構光三維檢測系統,透過整合雷射光源、擴束鏡組、光學取像、機構、軟體與輸送帶等六大模組,並使用兩台工業相機,提升三維輪廓量測系統之能力。系統使用雷射光作為主動式光源,…
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本研究延續蔡明城開發之動態量測拋光墊性能指標系統,透過彩色共軛焦感測器架設於CMP機台上,利用拋光機盤面旋轉與搖臂搖擺達到拋光墊大面積掃描,利用自製軟體分析其表面訊號,計算拋光墊非均勻度(PU)、壽…
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本研究目的為建立搖臂式拋光墊修整之數位雙生系統,整合搖臂控制模組及動態量測模組透過Modbus通訊協議連接實體搖臂與應用程式,可收集搖臂之實時資料,並透過彩色共軛焦感測器架設於搖臂上,以近似阿基米德…
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在半導體產業中,晶圓於化學機械拋光/平坦化(Chemical Mechanical Polishing /Planarization, CMP)過程中,下壓力變化可能會產生如表面刮傷、翹曲及腐蝕等缺…