檢索結果：共16筆資料 檢索策略： "Cheng-Chih Hsu".ecommittee (精準)
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本研究提出一套創新的四自由度共路徑式線性光學尺，具備同時量測面內或面外的位移及旋轉角量測能力。此套線性光學尺結合干涉術、光柵干涉術、分光技術及共路徑式光路等技術優勢進行系統開發，具備高靈敏度、高穩定…
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本研究提出一套創新的弦波調制雙繞射光柵干涉儀，用以進行精密位移及旋轉角量測。此套干涉儀是以弦波訊號來針對WP雙折射晶體進行訊號調制，達到外差訊號調制的目的，進而降低環境低頻擾動對量測結果所造成的影響…
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本研究提出一套創新的六自由度聚焦式雷射光學尺量測技術，其系統架構簡單，架設與校正容易，可用以進行精密位移及旋轉角度量測。此套量測技術的開發主要是以「光柵干涉術」為技術核心，輔以外差調制技術及自行設計…
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本研究提出一套多自由度複合式散斑干涉儀，用以進行精密位移及旋轉角量測。此套干涉儀系統結合外差干涉術和散斑干涉術之優點，並透過分光技術建立一套可以進行精密位移及旋轉角量測的架構，同時具備高解析度、非接…
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本研究提出一套「雙自由度共路徑式散斑干涉儀」，此套系統以氦氖雷射(Laser)、偏振片(P)、電光調制器(EOM)、平行分束器(BD)、沃拉斯頓稜鏡(WP)、圓柱透鏡(CL)及光感測器(PD)等光學…
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本研究提出一套「循環式線性光學尺(CLE)」，此套光學尺是由雷射二極體、光柵(G)、側向位移分光鏡(LBS)、偏極化分光鏡(PBS)、反射鏡(M)、偏振片(P)及IC光偵測器所組成，具光路架構簡單、…
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本研究以光柵干涉術作為主要的量測基礎，提出了一套新式的微型化雙繞射共路徑式線性光學尺，其系統架構簡單，架設及校正容易，可用以進行精密的大行程位移量測。我們利用自行設計的稜鏡配合反射式光柵建構出「共路…
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隨著工業技術快速發展的同時，對於高精度與高性能的精密位移量測技術需求與日俱增，眾多量測技術中又以雷射干涉儀最具發展潛力。本研究提出一套創新的雙頻共面偵測雙繞射式雷射干涉儀，此套干涉儀以「光柵」作為技…
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本研究提出一套創新的雙自由度外差式雷射散斑干涉儀，此套干涉儀系統結合外差和散斑干涉術之優點，具備高的靈敏度和解析度及大量測範圍等量測性能。 此套雙自由度外差式雷射散斑干涉儀藉由光柵來實踐對稱式的光路…