檢索結果:共2筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="電性檢測技術"
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於本論文中,為了尋求檢測低溫多晶矽顯示器面板參數設定之最佳化。從公式中得知,Cs=Qcs/Vcs、Qcs=I*T,則Vcs=(I*T)/Cs,當電壓值為固定時,則電流值與時間為影響因子。因此在實驗中…
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低溫多晶矽薄膜電晶體( Low-Temperature Poly-Si Thin Film Transistors, LTPS TFTs )面板被視為未來可能成為下一世代的顯示技術主流。由於LTPS…