檢索結果:共2筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="測試夾具法"
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實際量測上,網路分析儀與待測物(Device Under Test)間,會需要治具連 接,為此勢必會產生不屬於原始待測物的特性,需要透過去嵌入技術來消除。 目前在校正與去嵌入有許多方法,比較主流的有…
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目前在特性元件的量測中有兩種方式分別是:測試夾具法(Test Fixture Measurement)、晶圓級量測法(On-Wafer Measurement),使用測試夾具法時,會產生不屬於待測物…