檢索結果:共4筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="干涉條紋"
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像差係數是用以評估光學元件性能,很重要的參考指標,因此,本論文提出三種由干涉條紋圖像預測像差係數的技術,使用卷積神經網絡(Convolution Neural Network, CNN)方式,取代傳…
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像差這項指標所存在的價值,一直都是在光學成像系統上被列為重要的因素,因為像差的大小會直接影響光學系統成像的優劣,所以量測像差就非常重要,波前像差在多數情況下都是使用Zernike多項式來表示,傳統上…
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像差對於一個光學系統的成像好壞有著關鍵性的影響,也因此像差的量測就顯得至關重要,由於像差主要是來自於光學系統中,理想的波前被破壞,所以為了得知像差的型態與大小,我們必須進一步的去量測光學系統的波前並…