檢索結果:共3筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="深度學習" and ckeyword.raw="瑕疵分類"
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
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本研究針對積層陶瓷電容(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC)的在雜訊標籤下的分類問題,提出了一種結合雜訊樣本篩選機制及抗雜訊模型的方法。在實際應用中,資料蒐集的過…