檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="故障植入" and ckeyword.raw="邏輯陣列"
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本論文是關於FPGA-based邏輯陣列內建自我測試電路驗證系統之設計與實現,相關研究工作包含四大部分: 第一部份為探討邏輯陣列內建自我測試電路驗證系統之結構,在分析內建自我測試系統、待測電路與故…