檢索結果:共2筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="光學顯微鏡" and ckeyword.raw="發光二極體"
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發光二極體一般都以外部發光量的變化來探討其發光品質,我們將應用順向偏壓法去量測發光二極體的接面溫度,再以光學顯微鏡配合上高倍數的物鏡,聚焦至發光二極體內部,藉由輸入10mA至240mA的電流,進行熱…
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發光二極體一般都以外部發光量的變化來探討其發光品質,本研究以光學顯微鏡搭配高倍數物鏡與移動平台,聚焦至發光二極體表面與側面觀測近場分佈,了解發光二極體磊晶品質,並透過此光學系統去探討發光二極體由主動…