簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共2筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="位址重映射技術" and ckeyword.raw="良率"


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    1

    使用錯誤遮罩技術以 提升高容量快閃記憶體的良率和可靠度
    • 電機工程系 /105/ 碩士
    • 研究生: 余書奇 指導教授: 呂學坤
    • 由於有良好的可擴充性、低功耗及出色的隨機存取表現,快閃記憶體在消費性電子產品中佔主要的地位,像是筆記型電腦和數位音響播放器等產品。快閃記憶體細胞的儲存資訊方法是將電子儲存於浮閘中,隨著製程的…
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    使用位址重映射技術以提升電阻式記憶體的良率及可靠度
    • 電機工程系 /109/ 碩士
    • 研究生: 劉智嘉 指導教授: 呂學坤
    • 科技的進步帶動了製程技術的演進,使得行動裝置與高密度的記憶體得以快速發展,因此人們對於非揮發型記憶體的需求也隨之成長,而在眾多的非揮發型記憶體當中,電阻式記憶體具有較快的操作速度、較低的功耗…
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    • 全文公開日期 2024/08/14 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/08/14 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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