檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="自動化測試設備" and ckeyword.raw="鎖相迴路" and ckeyword.raw="鎖相迴路"
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本論文設計一個具備寬動態範圍與高解析度三維數位至時間轉換器架構,同時提出一個以延遲迴繞法設計的時間至數位轉換器,組成一個具備內建自我測試(Built-In Self Test, BIST)電路的數位…