檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="基因演算法" and ckeyword.raw="實驗計畫法" and ckeyword.raw="線性規劃"
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隨著整合度和複雜度持續的增加,IC產品測試需要有一個可靠的經濟解決方案。以測試項次數量與成品規模量的加成效果而言,每降低特定測試時間就能有極大的成本節省效益。本論文研究半導體產品測試時間縮短(Tes…