檢索結果:共3筆資料 檢索策略: cdept.raw="工業管理系" and cdept.raw="工業管理系" and ckeyword.raw="自動光學檢測"
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瑕疵數據收集對於新產品而言極其稀少,一直是重要的議題。然而,瑕疵數據集的品質對深度學習有顯著的影響。本研究致力於應用CNN架構之瑕疵檢測模型,以解決瑕疵資料稀缺性的問題。本研究考量產品生產過程中瑕疵…
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…