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研究生: 張志堅
CHIH-CHIEN CHANG
論文名稱: 運用資料探勘技術於半導體測試業的測試時間預測
Using Data Mining technology to Improve Test Time Forecasting System Performance in Semiconductor Industry
指導教授: 余尚武
Shang-Wu Yu
口試委員: 盧瑞山
Ruei-Shan Lu
洪政煌
Cheng Huang Hung
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 管理學院 - 資訊管理系
Department of Information Management
論文出版年: 2011
畢業學年度: 99
語文別: 中文
論文頁數: 93
中文關鍵詞: 資料探勘決策樹分群晶圓測試測試時間預測
外文關鍵詞: data mining, decision tree, cluster, CP testing, test time prediction
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  • 對晶圓測試的業者而言“時間就是金錢”。隨著測試時間的合理預測,公司可以防止利潤損失。測試時間一直是晶圓測試中一個重要的因素,目前有很多的系統或模式在研究如何預測晶圓良率,但是還沒有系統或模式針對晶圓未測試前的測試時間的預測做研究。
    本研究主要是針對半導體製程中之晶圓測試的測試時間為探討對象,從產品設計、工程管理及生產製造的角度將測試時間與生產製程及相關的測試的因素做一連結,期能建立一個預測晶圓測試時間之可行方法。藉由預先掌握晶圓測試之可能時間,可提供給市場、生管相關等後勤部門人員作產能規劃、先期備料、生產排程與交期規劃之用。
    資料準備是資料探勘處理過程中最花時間的一個步驟,在整個資料探勘的過程中大約佔了60%的時間。本研究中所用的資料是來自於工廠在生產過程中所蒐集的產品參數與測試結果等資料,用兩階段法(先用分群再用決策樹)來建立測試時間預測的模式,且用交叉分析比較實際運用的可行性。
    本研究建立的模式經過一些調整之後,再利用蒐集的資料實際驗證,且由驗證的結果中的配對率及準確率角度來看,發現這個模式是可以提供合理的預測的測試時間,而且可成功的發揮資料探勘幫助企業追求利潤及提高顧客滿意度之目標。


    ‘Time is money’ for CP (Circuit Probing) testing industry. With reasonable forecasted test time, the company can prevent profit loss. There's already a model and systems for forecasting CP Yield, but there's still no any system or model for CP Test Time forecast. Test time is always the important index of CP test. It is not only the key factor of CP Testing cycle time but also the basis of the revenue department for charging the service fee from our customer.
    This research is focus on the discussion of predicting the CP test time from the view of the product design, engineering management and manufacturing. This thesis attempts to propose a workable solution for CP test time prediction by using data mining techniques such as decision tree and cluster. The forecast model also provides the forecast test time with reasoning and a foreseeable view for marketing and planner in CP capacity preparation, scheduling arrangement, and for Outsource Management in checking subcontractor’s reasonable quotation.
    Data preparation occupied 60% effort and time in the procedure of data mining. In the research, the product parameters and CP result are measured and recorded in the manufacture process in this research. And using 2 step method (cluster and then decision tree) to create the model for test time prediction with the relative production record to verify the feasibility of manufacturing.
    The outcome of actual data analysis after model adjustment and crosscheck, it shows the model presented in the paper is practicable with matching rate and accuracy rate performance. And it provides the reasonable CP forecast test time to help an enterprise to achieve the primary goal of pursuit profit and improve customer satisfaction.

    ABSTRACT III 目 錄 VI 圖目錄 VIII 表目錄 X 第1章 緒論 1 1.1 研究背景 2 1.2 研究動機 3 1.3 研究目的 4 1.4 研究流程 4 1.5 論文架構 5 第2章 文獻探討 7 2.1 半導體製程介紹 7 2.2 半導體晶圓測試產業 14 2.2.1測試產業現狀及未來方向 14 2.2.2積體電路測試簡介 17 2.3 晶圓測試時間計算 23 2.4 影響測試時間的因素 28 2.5 晶圓測試時間預估方法介紹 31 2.6 測試活動影響利潤的因素 31 2.7 晶圓測試的成本 32 2.8 晶圓測試定價 34 2.9 晶圓測試時間對晶圓代工的成本及毛利率之重要性 37 2.10 資料探勘在半導體晶圓測試產業產業界的應用 39 第3章 研究方法 43 3.1 資料探勘介紹 43 3.1.1資料探勘的由來與定義 43 3.1.2資料探勘成敗的關鍵及使用時機 46 3.1.3資料探勘的種類 47 3.1.4資料探勘的過程 49 3.2 分類的手法介紹 51 3.2.1決策樹 C4.5運作的方式 51 3.2.2決策樹 C4.5建立流程 54 3.3 分群的手法介紹 63 3.3.1分群-相似度計算與量測 65 3.3.2選擇相似性或是相異性來做分群 72 3.3.3分群結果分析的方法 73 3.3.4分類與分群的差異 74 第4章 實例驗證 75 4.1 建立晶圓測試時間的預測模式 75 4.2 資料收集及整理 77 4.3 執行結果 82 第5章 結論與建議 86 5.1 研究結論 86 5.2 研究限制 87 5.3 建議 87 參考文獻 89

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    26. 陳建智,2007,應用模式樹建構印刷電路板裝配之表面黏著製程品質管制模型之研究,國立成功大學工業與資訊管理研究所碩士論文。
    27. 郭信宏,2008,應用資料探勘技術於面板檢測實證研究,國立中央大學工業管理研究所碩士論文。
    28. 黃寶興,2007,動態隨機存取記憶體測試實務與測試時間最佳化技術之研究,輔仁大學電子工程學系碩士論文。
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    英文部分
    1. Max Bramer. (2007). “Principles of Data Mining”, Springer-Verlag New York Inc.
    2. J.Han and M.Kamber. (2006). “ Data Mining: Concepts and Techniques”, Morgan Kaufmann Press.
    3. Witten, I.H. and Frank, E. (2005), “Data Mining: Practical Machine Learning Tools and Techniques”, Morgan Kaufmann.

    無法下載圖示 全文公開日期 2016/01/24 (校內網路)
    全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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