檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="串列測試的錯誤"
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本篇提出內容定址記憶體 (CAMs) 的高速測試技術。根據 CAM 陣列的故障模型對電路所造成之影響,我們將故障模型分成兩類-串列測試的錯誤 (STFs) 和平行測試的錯誤 (PTFs),對 PTF…