簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共32筆資料 檢索策略: "良率".ckeyword (精準)


  • 在搜尋的結果範圍內查詢: 搜尋 展開檢索結果的年代分布圖

  • 個人化服務

    我的檢索策略

  • 排序:

      
  • 已勾選0筆資料


      本頁全選

    1

    創新文化對半導體良率績效的影響-台灣半導體產業分析
    • 管理研究所 /93/ 碩士
    • 研究生: 王聰輝 指導教授: 林維熊
    • 創新文化是一門重要的研究課題,許多學者的探討,均顯現出創新文化能使得組織具有更好的競爭力。台灣半導體產業的快速發展,不僅提昇了台灣在全球的科技地位,並提供資訊電子產業蓬勃發展的基礎。然而隨著製程技術…
    • 點閱:204下載:2
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    使用不規則性和資料反轉技術提升 NROM 為基礎的唯讀記憶體的良率
    • 電機工程系 /100/ 碩士
    • 研究生: 李紫琳 指導教授: 呂學坤
    • NROM是一種新興的非揮發性記憶體技術,具有高資料儲存能力、低製造成本以及較好的值穩定性。它也有望取代以浮動閘 (Floating gate) 為基礎的非揮發性記憶體,例如快閃記憶體 (Flash …
    • 點閱:279下載:3

    3

    使用故障知曉乘積碼技術 提升快閃記憶體可靠度和良率
    • 電機工程系 /105/ 碩士
    • 研究生: 許珽堯 指導教授: 呂學坤
    • 近年來消費性電子產品如手機、固態硬碟、數位相機等迅速地發展,對於儲存裝置的容量需求也日益增加。其中快閃記憶體具有存取時間短、高儲存密度和低功率消耗等優點,使得快閃記憶體被廣泛應用於這些產品的儲存裝置…
    • 點閱:273下載:0
    • 全文公開日期 2022/08/09 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    4

    內建分散分析改善嵌入式記憶體良率
    • 電機工程系 /103/ 碩士
    • 研究生: 林浩暐 指導教授: 呂學坤
    • 近年來,超大型積體電路 (VLSI) 技術的快速發展使得電晶體的數量與記憶體細胞密度顯著增加,這個結果已經嚴重威脅到記憶體陣列的良率與可靠度,使得良率明顯下降。因此故障分散 (Fault Scram…
    • 點閱:250下載:18

    5

    考慮在兩個倉庫下個別隨機不良率的EOQ模式之研究
    • 工業管理系 /95/ 碩士
    • 研究生: 黃仲煦 指導教授: 李強笙
    • 在存貨管理的領域中,由傳統的EOQ模式開始不斷地被發展及應用,但是其過於理想化的考量,並不能有效地應用在多變的實際情況。其中一個不合理的假設即為所訂購的商品皆為良品,而不去考慮訂購量中含有不良品項;…
    • 點閱:166下載:7

    6

    電容式觸控面板良品判斷最佳化與分析
    • 電子工程系 /103/ 碩士
    • 研究生: 蘇志鵬 指導教授: 邱炳樟
    • 觸控技術的進步以及廣泛的應用,日常生活中已有無以計數的地方可以看到使用的成果,然而觸控面板低價化在於材料成本的控制與製程良率,在此同時必須同時控制其品質避免劣質品或已有趨劣現象之劣質品誤認為良品使用…
    • 點閱:139下載:0
    • 全文公開日期 2020/07/31 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    7

    使用故障群集技術以提昇嵌入式記憶體之良率與可靠度
    • 電機工程系 /107/ 碩士
    • 研究生: 黃文 指導教授: 呂學坤
    • 長久以來,內建自我修復技術與錯誤修正碼是時常被拿來保護記憶體的技術,用以提升記憶體的良率與可靠度,然而它們彼此的功用卻不相同。一般來說內建自我修復技術是用在修復流程以修復硬錯誤,錯誤修正碼是用在記憶…
    • 點閱:117下載:0
    • 全文公開日期 2024/08/05 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/08/05 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/08/05 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    8

    使用協同技術提升隨機存取記憶體的良率和可靠度
    • 電機工程系 /99/ 碩士
    • 研究生: 黃煥華 指導教授: 呂學坤
    • 根據製程廠所得到的點陣圖結果,出現在嵌入式記憶體裡的錯誤大約有60%—70%的錯誤是屬於正交錯誤. 如我們所知,每一個正交錯誤都需要一條備用列或欄來做修復.若發生大量的正交錯誤,我們需使用大量的備用…
    • 點閱:268下載:6

    9

    使用適應性容錯技術以提升電阻式記憶體之良率及可靠度
    • 電機工程系 /108/ 碩士
    • 研究生: 謝協成 指導教授: 呂學坤
    • 近年來由於製程技術的進步,行動裝置與物聯網得以迅速發展,對於非揮發性記憶體的需求也隨之上升,現今電阻式記憶體相較快閃式記憶體,擁有更低的功耗、更快的存取操作與更小的晶片面積,且其特殊的物理結構…
    • 點閱:268下載:74

    10

    以故障分散技術提升非揮發性記憶體的可靠度與良率
    • 電機工程系 /101/ 碩士
    • 研究生: 鄭浩晟 指導教授: 呂學坤
    • 針對記憶體中的故障細胞,除了只使用備用行或備用列來取代之外,錯誤更正碼也被認為是一種有效率的修復技術。錯誤更正碼若被用來處理永久性的故障 (Permanent Faults),記憶體在製程上的良率與…
    • 點閱:215下載:9