檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="故障分析" and ckeyword.raw="故障分析" and ckeyword.raw="良率"
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近年來,超大型積體電路 (VLSI) 技術的快速發展使得電晶體的數量與記憶體細胞密度顯著增加,這個結果已經嚴重威脅到記憶體陣列的良率與可靠度,使得良率明顯下降。因此故障分散 (Fault Scram…