研究生: |
羅盛平 Cheng-ping Luo |
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論文名稱: |
應用line scan 光學檢測技術分析擬似粒子粒徑之設備開發 Development of Line Scan Optical Inspection Sysytem on pseudo-particle Size Analysis |
指導教授: |
唐永新
Yeong-Shin Tarng |
口試委員: |
鍾國亮
Kuo-Liang Chung 牟金祿 Jin-lu Mou |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
工程學院 - 機械工程系 Department of Mechanical Engineering |
論文出版年: | 2006 |
畢業學年度: | 94 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 91 |
中文關鍵詞: | 粒徑 、光學檢測 、影像檢測 |
外文關鍵詞: | line scan, optical inspection system |
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本研究工作旨在開發一粒徑介於0.25mm~20mm微小顆粒之光學線性掃瞄影像分析儀,此自動化機械包括粒徑整列機構模組、線性掃瞄(Line Scan)影像擷取模組、影像分析處理模組及電控驅動模組,微小粒徑之顆粒經此分析儀將可自動計算分類,以了解受測物料粒徑分佈特性,經分析後可得知待測物之粒度分佈、平均粒徑、均勻度、圓形度,球形度等資訊。
利用line scan CCD影像處理,取像率可達100%,而且不會有重複和遺失的缺失,解決過去Area scan CCD影像遺漏的問題,來達到礦石粒子全檢,可分析全部顆粒粒徑的數據,使功能更臻完善。
The aim of this study is to develop a pseudo-particle size analysis instrument by optical line scan technology . The developed system composes of four major modules , which are materials feeding module , image acquired module , vision procession module and control unit . The advantages of this system cover total analysis without overloping nor missing of awited particles . The information gathered from the analysis results cover pseudo-particle size distribution , mean size , roundness , sphericity , and uniformity. This is a powerful instrument in any kinds of small particle analysis .
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