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研究生: 王呈哲
Cheng-Che Wang
論文名稱: 跨國企業多國專利申請策略比較分析-以半導體測試設備商為例
The Comparative Analysis of Multinational Corporations' Multi-countries Patent Application Strategies: A Case of IC Tester Manufacturers
指導教授: 管中徽
Chung-Huei Kuan
口試委員: 耿筠
劉國讚
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 應用科技學院 - 專利研究所
Graduate Institute of Patent
論文出版年: 2021
畢業學年度: 109
語文別: 中文
論文頁數: 74
中文關鍵詞: 半導體測試自動測試設備申請策略專利家族專利分類號共現關係
外文關鍵詞: IC testing, Automatic Test Equipment, Application Strategies, the Patent family, co-occurrence analysis, patent classification analysis
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  • 知識經濟發展至今,智慧財產權的應用、保護、管理已逐漸地越來越重要,我國的半導體產業能夠強盛並且帶動經濟,與投入大量資源與人力在研發上並取得關鍵技術是正相關的,對於這些企業來說,不論是不是放眼國際,專利的取得是必要的。
    本論文主要目的是觀察半導體測試業界中各佔半片江山、互相競爭的兩個企業,美商泰瑞達公司(Teradyne, Inc.)及日商愛德萬公司(Advantest Corporation),嘗試從其專利申請的數據來比較、觀察專利申請活動上的異同、推測是否反映其對於經營其研發成果的心態,最後再判斷這是不是一個有效或有意義的觀察方法。專利申請數據由較為傳統的專利分析開始進行,再加入IPC技術分析結合共現關係的觀察,以不同的角度解讀相同數據,以期揭示觀察現象的衝突或是互補特徵。
    本研究結論可以分為幾點: 1. 在這次的數據中,傳統IPC分類號次數統計分析與IPC共現關係的觀察,並沒有得到不同的結果,這部分的研究結論是共現關係的結果能夠用來來強調傳統IPC分析的觀點,也能夠試著以IPC共現關係的觀察來取代傳統的IPC分析,會有能夠得到比傳統IPC分析更多的成果的機會;2. 專利申請的方式上,Teradyne與Advantest佈局的國家雷同,但Teradyne較頻繁透過PCT來申請多國專利;Teradyne在歐美的佈局較多,亞洲的佈局著重在中國;相較於中國佈局,Advantest在亞洲的佈局更著重在台灣。
    由於研究的時間有限以及研究使用的incoPat系統有著數據上的限制,導致本研究並沒有達到預期的水平,期望未來能夠結合更多的數據,來做更全面性的觀察與分析。


    The application, protection and management of intellectual property rights have gradually become more and more important since the development of the knowledge economy. The strength of our semiconductor industry and its ability to drive the economy are positively related to the investment of a large amount of resources and manpower in R&D and the acquisition of key technologies.
    The main purpose of this paper is to observe two competing companies, Teradyne and Advantest, who occupy half of the market of the IC testing in the world, and to compare and observe the similarities and differences in their patent filing activities from the patent filing data, and to speculate whether they reflect their mentality towards the management of their R&D results, and finally to determine whether this is a valid or meaningful observation method. The patent application data starts from the more traditional patent analysis and adds the observation of co-occurrence relationship in the IPC technical analysis, expecting that the same data can be interpreted from different perspectives and can be conflicting or complementary.
    The conclusions of this study can be divided into several points:
    i. In this study, the statistical analysis of traditional IPC classification and the observation of the co-occurrence analysis of IPC do not yield different results, this study concludes that the results of the co-occurrence analysis can be used to emphasize the points of the traditional IPC analysis, it’s also possibly to try to replace traditional IPC analysis with IPC co-occurrence analysis, which will have the opportunity to obtain more results than traditional IPC analysis.
    ii. In the way of Patent application, Teradyne is frequently applying for multinational patents by PCT system. The country Teradyne and Advantest apply for is very similar. Teradyne’s Europe and the United States focus is more than Advantest, the Asia's deployment focused on the China. And Advantest’s Asia deployment is more focused on Taiwan Patent office than on China.
    Due to the available time for the study and the data limitations of the incoPat system, this study didn’t achieve the expected level. We expect to combine more data in the future to make more comprehensive observations and analysis of patent application.

    指導教授推薦書碩士學位論文指導教授推薦書 I 學位考試委員審定書碩士學位考試委員審定書 II 中文摘要 III ABSTRACT IV 誌謝 VI 目錄 VII 圖表索引 I 第1 章 緒論 1 第1.1 節 研究目的與背景 1 第1.2 節 研究方法 3 第1.2.1 節 資料來源 3 第1.2.2 節 數據範圍 3 第1.2.3 節 資料庫驗證 4 第1.2.4 節 專利家族選用 4 第1.3 節 論文架構 5 第1.4 節 論文預期貢獻 6 第2 章 產業發展現況與文獻回顧 7 第2.1 節 產業背景 7 第2.2 節 研究對象 8 第2.3 節 文獻探討 10 第2.3.1 節 各專利分析角度 11 第2.3.2 節 專利分類號介紹 12 第2.3.3 節 專利分類號應用 13 第2.3.4 節 分類號共現關係 13 第3 章 基礎專利資訊分析 15 第3.1 節 專利類型 15 第3.2 節 專利概要分析 15 第3.2.1 節 申請趨勢 15 第3.2.2 節 專利申請國家 16 第3.2.3 節 專利申請人 17 第3.2.4 節 專利發明人 19 第3.3 節 IPC 分類號分析 20 VIII 第3.3.1 節 單一分類號專利 20 第3.3.2 節 三階分類號分析 21 第3.3.3 節 四階分類號分析 22 第3.3.4 節 四階分類號公開趨勢 23 第3.3.5 節 四階分類號地域分析 25 第3.4 節 分類號共現分析 26 第3.4.1 節 資料分析方式 27 第3.4.2 節 共現組合分析 28 第3.4.3 節 Teradyne 三階分類號共現分析 28 第3.4.4 節 Advantest 三階分類號共現分析 31 第3.4.5 節 三階分類號共現分析小結 32 第3.4.6 節 Advantest 四階分類號共現觀察 33 第3.5 節 小結 34 第4 章 專利家族資訊分析 35 第4.1 節 專利家族概述 35 第4.1.1 節 歷年家族分析 35 第4.1.2 節 專利家族申請國別分析 36 第4.1.3 節 專利家族大小 37 第4.2 節 專利家族成員 37 第4.2.1 節 專利家族成員國家分佈 38 第4.2.2 節 前十大專利家族概述 39 第4.2.3 節 以三大洲角度觀察成員國家分佈 41 第4.3 節 主張優先權比較 42 第4.4 節 PCT 專利申請概況 42 第4.4.1 節 Teradyne 專利申請模式分析 43 第4.4.2 節 Advantest 專利申請模式分析 46 第4.4.3 節 PCT 國際檢索機構指定 49 第4.4.4 節 專利申請模式小結 49 第4.5 節 引證關係 50 第4.5.1 節 被引證次數 50 第4.5.2 節 被引證次數V.S 三階IPC 分類號 51 第4.5.3 節 引證對象比較 53 第4.5.4 節 相同引證對象 53 第5 章 結論 55 第5.1 節 研究觀察結果 55 第5.2 節 申請策略比較 57 第5.2.1 節 第一申請局選擇 57 IX 第5.2.2 節 是否透過PCT 制度申請專利 57 第5.2.3 節 PCT 是否進入國家階段 57 第5.2.4 節 申請佈局分析與推測 58 第5.3 節 未來方向與研究限制 58 第5.3.1 節 INCOPAT 系統層面 58 第5.3.2 節 研究進行層面 59 參考文獻 1 中文部份 1 英文部份 2

    中文部份
    1. 學位論文及期刊
    王念澤(2017),專利分類號的共現性研究-以生物技術CRISPR為例。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    白林林、祝忠明(2017) 合作专利分类体系(CPC)与国际专利分类体系(IPC)的映射分析,知识管理论坛期刊,2017,2(5),398405
    何妍德(2016),無線充電專利布局與技術發展之研究。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    李子瑋(2017),電動機車智慧財產權之佈局策略---以專利及商標分析GOGORO為例。國立台北科技大學,智慧財產權研究所碩士學位論文
    林展逸(2014),專利公開案與其對應公告案之專利分類號差異研究,國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    周磊,杨威,张玉峰(2014) 共现矩阵聚类分析的问题与再思考,情报杂志,2014年第6期,32-36
    卓祺珮(2010),封測企業成長之研究-以日月光, AMKOR, 矽品為例,國立交通大學,管理學院,財務金融組碩士學位論文
    施文宗(2010),半導體測試設計之創新商業模式策略研究,國立中山大學,管理學院,高階經營碩士學程碩士學位論文
    陳宛婷(2019),半導體測試設備大數據與生存分析,龍華科技大學,資訊管理系碩士學位論文
    陳映彤(2019),競爭公司在自動停車技術之專利強度研究。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    楊采璇(2016),專利分類號數量與被引用數量關聯性研究。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    劉皓全(2019),微型發光二極體顯示器專利分析及延續案申請策略之研究。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    鄭蕙宇(2019),競爭公司在電動車電池系統之專利強度研究。國立台灣科技大學,專利研究所碩士學位論文
    2. 網路資料
    經濟部智慧財產局(2021.01版)。《IPC國際分類號查詢》。
    科技產業資訊室(2021),全球晶圓產能台灣排名第一預計領先到2025年。專欄報導,作者: Lisa。網址: https://iknow.stpi.narl.org.tw/Post/Read.aspx?PostID=18040
    3. 書籍
    劉國讚,2018,《國際專利分析與布局》,臺北: 元照。
    4. 專利資料庫
    incoPat: https://www.incopat.com
    GPSS: https://gpss3.tipo.gov.tw
    USPTO: https://patft.uspto.gov/
    英文部份
    1. 網路資料
    Andrew Sather (2020). Semiconductor Watch: Advantest Likely To Sustain Its High Margins. Seeking Alpha company analysis. (https://seekingalpha.com/article/4379459-semiconductor-watch-advantest-likely-to-sustain-high-margins)
    Organization for Economic Co-operation and Development(1994). The Measurement of Scientific and Technological Activities Using Patent Data as Science and Technology Indicators.

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