自動光學檢測為透過光學系統來取得產品狀態再利用電腦視覺影像技術來判斷產品品質之非接觸式檢測技術，現在已經成為自動化生產不可或缺的一部分。

本研究透過高度相關性之國際分類號及關鍵字於中華民國專利檢索系統找出主要五個主要在台灣進行專利佈局之自動光學檢測廠商進行技術功效探討，並統計其專利檢測目標來分析其產業應用生態；接著以各項專利強度指標探討各專利權人之技術廣度與深度並依此分析技術發展路徑；最後對各專利權人提出評價與建議。

本研究可獲得以下結論:

1.自動光學檢測雖然發展已久，中間雖有停滯，但在2015年後其專利申請趨勢又開始進入成長期。

2.美商科磊在光學與演算法基礎皆有相當大量的專利申請，而台灣廠商由田新技、致茂電子、牧德科技及德律科技較集中於架構整合技術上。

3.各專利權人在應用產業方面有集中專攻之趨勢，美商科磊應用集中於晶圓檢測，而台灣廠商則集中於印刷電路板、面板及光電產業。

4.美商科磊在所有專利指標皆領先其他台灣廠商競爭者，在高精密之晶圓檢測上有絕對之優勢。

關鍵字:光學檢測、專利分析、專利強度指標、技術功效矩陣

Automated optical inspection (AOI) is a contactless inspect technology for quality assurance by using an Optical System to capture product status then judge by computer vision algorithm. It is now an indispensable part of automation industry.

This thesis found five major automated optical inspection system vendors by using search striges based on most high relative international patent classification numbers and keywords on Taiwan patent search system. Then processing the technology-function analysis and application industry statics of these five major vendors. The following is evaluating the breadth and depth of each vendors by various patent strength indicators. Finally proposed comprehensive evaluations and recommendations.

Results of the thesis are shown below:

1.Although automatic optical detection has developed for a long time and stagnated in the middle, the patent application began to enter a new growth period after 2015.

2.KLA Had large number of patent applications in optics and algorithms, and Local vendor such as Utechzone, Chroma ATE, Machvision, Test research Inc. is much focus on integration technology.

3.Patentees tend to concentrate on the application industry, KLA focus on wafer industry, other local vendors focus on printed circuit board, panel and optoelectronic industry.

4.KLA is leading other manufacturers' competitors in all patent strength indicators, it has an absolute advantage in wafer inspection.

Keywords: Automated optical inspection, Patent analysis, Patent strength indicators, Technology function matrix  

專業書籍
劉國讚(2021)， 國際專利分析與布局，元照出版。

碩博士論文
[1]徐延琳(2022)，兩岸專利申請審查結果差異之比較分析—以光學元件相關技術申請案為例，國立臺灣科技大學專利研究所碩士論文。
[2]徐凰殷(2016) ，先進駕駛輔助系統專利布局與技術發展之研究，國立臺灣科技大學專利研究所碩士論文。
[3]羅彬秀(2019) ，機器人產業之專利佈局分析研究，國立臺北科技大學智慧財產權研究所碩士論文。
[4]楊沐恩(2018)從半導體專利技術看浸潤微影及極紫外光源微影之發展，國立交通大學理學院應用科技學程碩士論文。
[5]陳映彤 (2019)，競爭公司在自動停車技術之專利強度研究，國立臺灣科技大學專利研究所碩士論文。
[6]陳家賀 (2021)，以專利強度分析探討矽晶圓長晶技術之研發趨勢，國立臺灣科技大學專利研究所碩士論文。
[7]孫銘俊 (2021)，面板玻璃基板變形瑕疵缺陷檢測優化研究，國立臺北科技大學機械工程系機電整合碩士論文。
[8]盛怡慈 (2020)，檢測設備廠商經營發展策略之分析-以牧德為例，國立臺灣大學商學研究所碩士論文。
[9]張哲輔 (2019)，整合深度學習於自動光學檢測系統之 PCB 瑕疵檢，國立臺北科技大學自動化科技研究所碩士論文。
[10]彭俞斐 (2020)，應用影像處理於晶圓水痕及外觀瑕疵檢測之研究，國立中央大學機械工程學系在職專班碩士論文。
[11]鄭蕙宇 (2019)，競爭公司在電動車電池系統之專利強度研究，國立臺灣科技大學專利研究所碩士論文。

專題研討會及演講資料
[1]范光照 (2012)，自動化光學檢測發展趨勢(Automated Optical Inspection, AOI)，國科會自動化學門成果發表會。
[2]黃仲宏 (2020)，AOI系統的全球市場規模與競爭廠商分析，2020自動光學檢測設備聯盟會員大會專題演講。

期刊雜誌
[1]張耿豪、蔡雅惠、呂寧遠、李韋辰、鍾幸芸、賴昱廷、工研院機械所工業物聯網技術組工業視覺技術部，人工智慧發展與工業影像檢測新方法(2018)，人工智慧發展與工業影像檢測新方法，機械工業雜誌，425期，頁53~59。

網路資料
[1]力丞儀器，機器視覺介紹/AOI介紹，http://apisc.com/aoi-introduction.htm。