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隨著積體電路技術之精進,現今的電路功能日趨複雜。為了滿足大量製造之需求,自動測試成為積體電路製造過程中非常重要的一環。其中,自動測試儀器被廣泛運用,其前端模組核心電路之一即為數位至時間轉換器(Dig…
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)並利用鎖相迴路延遲矩陣為基礎之時間至數位轉換電路(Time-to-Digital con…