檢索結果：共19筆資料 檢索策略： "許正治".ccommittee (精準)
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本研究提出一套創新的雙自由度外差式雷射散斑干涉儀，此套干涉儀系統結合外差和散斑干涉術之優點，具備高的靈敏度和解析度及大量測範圍等量測性能。 此套雙自由度外差式雷射散斑干涉儀藉由光柵來實踐對稱式的光路…
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本研究提出一套「高解析度陰影疊紋式量測系統」，此套系統是由LED光源模組、大面積小週期的線性光柵、影像擷取模組及軟體相位解調模組所組成，其系統架構簡單、組裝及調校容易，具低成本的開發優勢。此套量測系…
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本研究成功開發出一套創新的剪切干涉式波前感測器量測技術，可藉由量測波前變化，進行光學成像系統組裝程序中，透鏡元件於三維空間的位置對位檢測與校正，除可克服業界常用的雷射準直儀偏心檢測系統無法進行透鏡元…
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本研究提出一套創新的雙外差式散斑干涉儀，用以進行精密的位移及旋轉角度量測。此套干涉儀主要是以散斑干涉術做為主要的量測基礎，同時我們依據分頻多工的概念設計了一組「雙電光調制光路」來形成雙外差光源，即干…
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本研究成功開發出一套新式剪切干涉式波前感測器透鏡輪廓與像差量測系統，用以量測光束穿過待測透鏡後的波前變化。除了可藉由分析波前的變化情形求出待測透鏡的各階像差及相對應的Zernike像差係數之外，亦能…
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本研究提出一套創新的四自由度共路徑式線性光學尺，具備同時量測面內或面外的位移及旋轉角量測能力。此套線性光學尺結合干涉術、光柵干涉術、分光技術及共路徑式光路等技術優勢進行系統開發，具備高靈敏度、高穩定…
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本研究提出一套創新的弦波調制雙繞射光柵干涉儀，用以進行精密位移及旋轉角量測。此套干涉儀是以弦波訊號來針對WP雙折射晶體進行訊號調制，達到外差訊號調制的目的，進而降低環境低頻擾動對量測結果所造成的影響…
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本研究提出一套創新的六自由度聚焦式雷射光學尺量測技術，其系統架構簡單，架設與校正容易，可用以進行精密位移及旋轉角度量測。此套量測技術的開發主要是以「光柵干涉術」為技術核心，輔以外差調制技術及自行設計…
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本研究提出一套多自由度複合式散斑干涉儀，用以進行精密位移及旋轉角量測。此套干涉儀系統結合外差干涉術和散斑干涉術之優點，並透過分光技術建立一套可以進行精密位移及旋轉角量測的架構，同時具備高解析度、非接…