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本研究提出Wasserstein GANs的改進訓練(WGAN-GP)結合殘差神經網路(Residual network, ResNet),透過基於ResNet而建置的生成模型及鑑別模型進行對抗式訓…
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半導體製程技術的進步促使元件結構的微縮,除了對製程技術迎來更大的挑戰,同時也需要更有效率的量測方法來驗證製程結果。關鍵尺寸(Critical dimension)量測技術是驗證製程標準的關鍵步驟。傳…