檢索結果:共7筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="保留錯誤"
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由於快閃記憶體具有有限的P/E cycles,因此超過快閃記憶體單位限制的P/E cycles後會出現嚴重的可靠性問題,主要原因是快閃記憶體單元中的寫穿(wear-out)現象,受到該現象的影響下,…
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干擾錯誤和保留時間錯誤是3D-TLC閃存中的兩種主要錯誤類型。 隨著的P/E cycles增加,氧化層變薄。 因此,存儲在電池中的電荷變得更容易丟失,這將導致Vth發生負向偏移。 同時,由於FN隧道…
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如今,3D TLC快閃記憶體以其高容量和低成本成為了主流存儲介質。 但是,3D TLC快閃記憶體存在一些可靠性問題,例如保留錯誤和讀取乾擾錯誤, 這些問題可能會隨著時間的推移而累積並超過ECC(糾錯…
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由於快閃記憶體具有有限的P/E cycles,因此超過快閃記憶體單位限制的P/E cycles後會出現嚴重的可靠性問題,資料只能在有限的時間(即保留時間)或有限的讀取周期內安全地儲存。隨著資料的保留…
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由於快閃記憶體具有有限的編程/抹除次數(P/E cycles)限制,通常在超過該上限次數後,逐漸不堪使用,而其核心原因來自於快閃記憶體單元內的寫穿(wear-out)現象,在此現象的影響下,任何資料…
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隨著閃存存儲密度的顯著增加,可靠性問題也變得越來越嚴重。 刷新機制是確保數據完整性的簡單有效的方法。 該操作定期讀取閃存中的數據,通過ECC引擎糾正其錯誤,然後將無錯誤的數據重寫到空閒空間,以防止數…