檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="Tauc公式" and ckeyword.raw="微結構參數"
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本研究係用射頻電漿系統沉積氫化非晶矽薄膜,調變製程重要參數如氫氣稀釋比、基材溫度、工作壓力以及電極間距等,藉由傅立葉轉換紅外光光譜儀(FT-IR)以及紫外光/可見光光譜儀(UV-VIS)等分析方法,…