檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="老化測試" and ckeyword.raw="金線長度"
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本研究主要是針對LED的設計參數-封裝矽膠與金線弧度的變化,利用高溫點亮測試及冷熱衝擊測試進行產品的可靠度驗證,找出該兩項參數與LED產品可靠度的影響性。兩款不同的封裝矽膠,首先以高溫點亮的老化測試…