檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="支援向量機" and ckeyword.raw="統計式門檻值"
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本研究提出一套發光二極體自動瑕疵檢測系統,利用各種數位影像處理技術於晶粒瑕疵辨識中。檢測項目包含正常晶粒、破晶、電極區刮痕瑕疵、電極區殘金瑕疵、發光區刮痕瑕疵與發光區剝落瑕疵。 本研究主題分…