檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="影像處理" and ckeyword.raw="裸晶粒"
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本研究運用自動化光學檢測技術,開發完成一套具量測功能與缺陷檢驗之裸晶粒檢測模組。模組僅使用一組影像擷取裝置,但透過反射元件可同時對晶粒外觀的多面輪廓進行檢測。機台測試的過程中以無缺陷之晶粒為樣本,利…