檢索結果:共2筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="三階儲存單元" and ckeyword.raw="可靠度"
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由於快閃記憶體具有有限的P/E cycles,因此超過快閃記憶體單位限制的P/E cycles後會出現嚴重的可靠性問題,主要原因是快閃記憶體單元中的寫穿(wear-out)現象,受到該現象的影響下,…
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由於快閃記憶體具有有限的編程/抹除次數(P/E cycles)限制,通常在超過該上限次數後,逐漸不堪使用,而其核心原因來自於快閃記憶體單元內的寫穿(wear-out)現象,在此現象的影響下,任何資料…