檢索結果:共1筆資料 檢索策略: cadvisor.raw="徐世輝" and ckeyword.raw="統計製程品管(SPC)"
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本研究主要係針對具有因龐大的設備投資導致成本過高的半導體測試產業為研究對象,結合製程統計品管(SPC,Statistic Process Control)的觀念與作法來追求生產設備綜合效率的最佳化,…