檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="二體勢能" and ckeyword.raw="原子力顯微鏡" and ckeyword.raw="截面資料庫"
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本研究以二體勢能函數建立一套接觸式原子力顯微鏡定力模式之模擬奈米級量測模型。模擬方法為當探針Tip經過試片表面,利用Morse勢能計算出試片原子對探針Tip原子之受力,經由計算得出對探針懸臂之等效力…