檢索結果:共1筆資料 檢索策略: ckeyword.raw="向量式動態電壓降預測" and ckeyword.raw="特徵工程" and ckeyword.raw="特徵選取" and ckeyword.raw="特徵選取"
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由於製程的進步讓電晶體的面積越來越小,使得晶片上的電晶體數量呈現指數趨勢的成長,導致在進行電壓降分析時需要消耗大量的時間和資源。而近年來,機器學習發展十分迅速,有許多機器學習的方法被應用在預測電壓降…