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研究生: 吳耀明
Yao-Ming Wu
論文名稱: 陣列式奈米鑽石元件之製作
The study of arrayed nano-crystalline diamond devices
指導教授: 黃柏仁
Bohr-Ran Huang
口試委員: 周賢鎧
Shyan-Kay Jou
張守進
Shoou-Jinn Chang
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電資學院 - 電子工程系
Department of Electronic and Computer Engineering
論文出版年: 2009
畢業學年度: 97
語文別: 中文
論文頁數: 95
中文關鍵詞: 奈米鑽石薄膜場發射特性陣列式結構
外文關鍵詞: Nanocrystalline diamond films, Field emission, Array structure
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  • 本論文主要是探討製作不同間距之陣列式奈米鑽石薄膜元件於場發射特性之影響以及不同壓力在氮氣氣體感測特性之影響。本研究中係使用微波電漿化學氣相沉積系統將奈米鑽石薄膜沉積於矽基材上,藉由場發射電子顯微鏡觀察薄膜的表面形態,並分別利用拉曼光譜儀與化學分析電子光譜儀及原子力顯微鏡分析薄膜品質特徵與薄膜表面元素成份以及薄膜表面粗糙度,再分別利用黃光微影與磁控濺鍍系統及微波電漿化學氣相沉積系統於矽基板上製作陣列式奈米鑽石元件,並進行場發射以及離子性氣體感測特性量測。
    場發射特性是在外加陽極電壓0 V~1100 V下進行量測,隨著陣列式奈米鑽石元件間距增加,可獲得較低的起始電場以及較高的場增強因子,與沒有陣列式結構之奈米鑽石薄相比較,可有效地改善場發射特性。然而,隨著陣列式結構間距由 100μm 增加至 1000 μm 時,起始電場可由 14.67 V/μm 降低至 8.5 V/μm,結果顯示了間距的增加,可更進一步降低起始電場與提高電流密度。在不同奈米鑽石元件間距下,通入氮氣,改變壓力(固定腔體體積下),觀察氣體崩潰電壓與壓力之關係。在陣列式結構間距較小之情況下,所感測出氮氣體崩潰電壓對壓力之關係較低。


    In this dissertation, the different array interval structure of nanocrystalline diamond (NCD) films were fabricated to study the effect on the field emission properties and gas ionization sensors on different pressure in nitrogen gas, respectively. NCD films were deposited on silicon substrate by microwave plasma chemical vapor deposition system. The surface morphology of NCD films were characterized by the field emission scanning electron microscopy. The characterization of NCD films were analyzed by Raman, XPS and AFM to show the quality, the surface composition and average roughness of nanocrystalline diamond, respectively. The array structures were fabricated by photolithography technique with the interval of 100 , 500 and 1000μm, respectively..
    Field emission properties were measured with anode voltage from 0 to 1100 V. It is found that the turn on electric field were improved from 14.67 V/μm to 8.5 V/μm when the array structure interval was increased from 100μm to 1000μm. It is indicated that the field emission properties were improved with the array interval increased. The arrayed nano-crystalline diamond devices of gas ionization sensors were performed using N2 gas with the array interval of 100, 500 and 1000μm, respectively. However, it was found that the breakdown voltage decreased with the array interval decreased.

    摘要 Abstract 誌謝 目錄 表目錄 圖目錄 第一章 前言 第二章 文獻回顧 2.1鑽石基本物理與化學特性簡介 2.2類鑽碳簡介 2.2.1類鑽碳薄膜結構 2.2.2奈米鑽石薄膜簡介 2.3 奈米鑽石薄膜之成核理論 2.4奈米鑽石薄膜之成長方法 2.4.1 微波電漿化學氣相沉積法 ( Microwave Plasma Chemical Vapor Deposition system) 2.4.2 熱燈絲化學氣相沉積法 (Hot filament CVD system) 2.4.3 射頻電漿化學氣相沉積法 ( RF plasma CVD Techniques ) 2.5 場發射理論 2.6氣體崩潰理論 第三章實驗設備與方法 3.1 實驗流程 3.2 奈米鑽石薄膜之成長 3.2.1 矽晶圓之清 3.2.2 基板之前處理 3.2.3 成長奈米鑽石薄膜 3.3單發不同準分子雷射功率及連續不同準分子雷射功率 3.3.1準分子雷射(Excimer laser)退火後處理 3.4不同間距之陣列式奈米鑽石元件對於場發射量測與氮氣氣體感測器之比 較 3.4.1塗佈不同間距光阻薄膜 3.4.2 濺鍍鋁薄膜 3.4.3 去除光阻薄膜 3.4.4 氧電漿蝕刻鑽石薄膜 3.4.5 去除鋁薄膜 3.5 奈米鑽石薄膜場發射及氣體感測之量測 3.5.1奈米鑽石薄膜場發射電性量測流程 3.5.2奈米鑽石薄膜氣體感測量測流程 3.5.3奈米鑽石薄膜電流電壓(I-V)量測 3.6 實驗儀器分析 3.6.1 場發射掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) 3.6.2 顯微拉曼光譜儀 (Mirco-Raman) 3.6.3 X射線光電子能譜儀 (XPS) 第四章 結果與討論 4.1單發準分子雷射後處理對不同厚度奈米鑽石結構之特性分析 4.1.1表面形態分析 4.1.2 拉曼光譜儀分析 4.1.2 UV拉曼光譜儀分析 4.1.3 X射線光電子能譜儀分析 4.2連續準分子雷射後處理對不同厚度奈米鑽石結構之特性分析 4.2.1表面形態分析 4.2.2拉曼光譜儀分析 4.2.3 X射線光電子能譜儀分析 4.3不同間距之陣列式奈米鑽石元件之特性分析 4.3.1製作不同間距之陣列式奈米鑽石元件 4.3.2場發射特性分析 4.3.3氮氣氣體感測特性分析 4.3.4 I-V特性曲線分析 第五章 結論參考資料 圖目錄 圖2.2-1 離子穿透表面成的方法 圖2.2-2 碳之相圖 圖2.2-3 CVD法成長鑽石薄膜之示意圖 圖2.5-1 金屬-真空系統場發射示意圖 圖2.6-1 在三種不同氣體下的Paschen曲線 圖2.6-2 場發射氣體感測元件 (a) 場發射氣體感測裝置 (b) 剖面圖 (c) 垂直多壁奈米碳管SEM圖 圖 2.6-3 場發射氣體感測器 (a) 氣體種類與崩潰電壓電流關係圖 (b) 氣體濃度與放電電流關係圖 圖3.2-1 實驗流圖 圖3.2-2 基板清洗流程 圖3.2-3 基板前處理示意圖 圖3.2-4 微波電漿化學氣相沉積系統 圖3.3-1 雷射準分子系統示意圖 圖3.3-1 單發準分子雷射後處理奈米鑽石薄膜之示意圖 圖3.3-1 連續準分子雷射後處理奈米鑽石薄膜之示意圖 圖3.4-1 製作陣列式奈米鑽石元件之流程圖 圖3.4-2 光罩之圖形 圖3.4-3 濺鍍系統實際圖 圖3.4-4 微波電漿系統實際圖 圖3.4-5 製作陣列式奈米鑽石元件之流程圖 圖3.5-1 奈米鑽石薄膜場發射電性量測裝置圖 圖3.5-2 奈米鑽石薄膜氣體感測量測裝置圖 圖3.5-4 奈米鑽石薄膜電流電壓(I-V)測量測裝置圖 圖4.1-1 試片(一):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之 FE-SEM 分析圖, (a) 未處理側視圖, (b) 未處理俯視圖,入射功率分別為 (c) 300 mj/cm2俯視圖 (d) 600 mj/cm2俯視圖 圖4.1-2 試片(一):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之原子力顯微鏡表面粗糙度分析圖,(a) 未處理2D圖,(b) 未處理3D圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2 2D圖 (d) 300 mJ/cm2 3D圖 (e) 600 mJ/cm2 2D圖 (f) 600 mJ/cm2 3D圖 圖4.1-3 試片(二):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之 FE-SEM 分析圖,(a) 未處理側視圖,(b) 未處理俯視圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2俯視圖 (d) 600 mJ/cm2俯視圖 圖4.1-4 試片(二):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之原子力顯微鏡表面粗糙度分析圖,(a) 未處理2D圖,(b) 未處理3D圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2 2D圖 (d) 300 mJ/cm2 3D圖 (e) 600 mJ/cm2 2D圖 (f) 600 mJ/cm2 3D圖 圖4.1-5 試片(三):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之 FE-SEM 分析圖,(a) 未處理側視圖,(b) 未處理俯視圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2俯視圖 (d) 600 mJ/cm2俯視圖 圖4.1-6 圖 4.1-6 試片(三):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之原子力顯微鏡表面粗糙度分析圖,(a) 未處理2D圖,(b) 未處理3D圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2 2D圖 (d) 300 mJ/cm2 3D圖 (e) 600 mJ/cm2 2D圖 (f) 600 mJ/cm2 3D圖 圖4.1-7 試片(四):試片(四):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之 FE-SEM 分析圖,(a) 未處理側視圖,(b) 未處理俯視圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2俯視圖 (d) 600 mJ/cm2俯視圖 圖4.1-8 試片(四):奈米鑽石薄膜準分子雷射退火後處理之原子力顯微鏡表面粗糙度分析圖,(a) 未處理2D圖,(b) 未處理3D圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2 2D圖 (d) 300 mJ/cm2 3D圖 (e) 600 mJ/cm2 2D圖 (f) 600 mJ/cm2 3D圖 圖4.1-9 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處 理之拉曼光譜(=514nm)分析圖,分別為(a)試片(一)、(b)試片(二) 、(c) 試片(三) 、(d)試片(四) 圖4.1-10 奈奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火 後處理之UV拉曼光譜(=325nm)分析圖,分別為(a) 試片(一)、(b) 試 片(二) 、(c) 試片(三) 、(d) 試片(四) 圖4.1-11 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處 理之X射線光電子能譜儀之薄膜全譜分析圖,分別為 (a)試片(一)、(b) 試片(二) 、(c) 試片(三) 、(d) 試片(四) 圖4.1-12 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處 理之X射線光電子能譜儀之碳 (C1s)細部分析圖,分別為 (a) 試片 (一)、(b) 試片 (二)、(c) 試片 (三)、(d) 試片 (四) 圖4.1-13 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處 理之X射線光電子能譜儀sp3/sp2比值與氧元素百分比,分別為 (a) 試 片 (一)、(b) 試片 (二)、(c) 試片 (三)、(d) 試片 (四) 圖4.2-1奈米鑽石薄膜連續準分子雷射退火後處理之 FE-SEM 分析圖,(a) 未處理側視圖,入射功率分別為(b) 300 mJ/cm2俯視圖 (c) 350 mJ/cm2俯視圖 (d) 400 mJ/cm2俯視圖 (e) 450 mJ/cm2俯視圖 (f) 500 mJ/cm2俯視圖 (g) 550 mJ/cm2俯視(f) 600 mJ/cm2俯視圖 圖4.2-2 奈米鑽石薄膜連續準分子雷射退火後處理之原子力顯微鏡表面粗糙度分析圖,(a) 未處理2D圖,(b) 未處理3D圖,入射功率分別為(c) 300 mJ/cm2 2D圖 (d) 300 mJ/cm2 3D圖(e) 350 mJ/cm2 2D圖 (f) 350 mJ/cm2 3D圖(g) 400 mJ/cm2 2D圖 (h) 400 mJ/cm2 3D圖(i) 450 mJ/cm2 2D圖 (j) 450 mJ/cm2 3D圖(k) 500 mJ/cm2 2D圖 (l) 500 mJ/cm2 3D圖(m) 550 mJ/cm2 2D圖 (n) 550 mJ/cm2 3D圖(o) 600 mJ/cm2 2D圖 (p) 600 mJ/cm2 3D圖 圖4.2-3 奈米鑽石薄膜經不同連續準分子雷射功率退火後處理之拉曼光譜 (=514nm)分析圖 圖4.2-4 奈米鑽石薄膜未經連續準分子雷射退火及經不同連續準分子雷射功率 退火後處理之X射線光電子能譜儀之全譜分析圖 圖4.3-1 (a)陣列式光阻層於奈米鑽石薄膜上方之光學顯微鏡俯視圖,(b) 陣列式 鋁薄膜於奈米鑽石薄膜上方之光學顯微鏡俯視圖,(c) 陣列式奈米鑽石 元件之光學顯微鏡俯視圖 圖4.3-2 濺鍍鋁薄膜於奈米鑽石薄膜試片上方之FE-SEM 分析圖,(a)俯視圖 (b) 側視圖 圖4.3-3 鋁薄膜去除之鑽石薄膜之FE-SEM分析圖,(a)俯視圖 (b)側視圖 圖4.3-4 拉曼光譜(=514nm)分析圖(a)奈米鑽石薄膜,(b) 磷酸去除鋁薄膜後之 奈米鑽石薄膜,(c) 氧電將蝕刻後之奈米鑽石薄膜 圖4.3-5 UV拉曼光譜(=325nm)分析圖(a)奈米鑽石薄膜,(b) 磷酸去除鋁薄膜後 之奈米鑽石薄膜,(c) 氧電將蝕刻後之奈米鑽石薄膜 圖4.3-6 不同間距陣列式奈米鑽石場發射量測元件,光學顯微鏡俯視圖(a) 間距 100 μm,(b) 500 μm,(c) 1000 μm 圖4.3-7 奈米鑽石薄膜與陣列式奈米鑽石薄膜元件,所量測之場發射特性 (a) 場發射起始電場分析圖 (b) F-N特性比較圖 圖4.3-8 不同間距陣列式奈米鑽石氣體感測器元件,光學顯微鏡俯視圖(a) 間距 100 μm,(b) 500 μm,(c) 1000 μm 圖4.3-9 奈米鑽石薄膜,在不同壓力下之氮氣氣體感測特性 圖4.3-10 在不同壓力下之氮氣氣體感測特性,分別為(a)奈米鑽石薄膜,(b) 間 距 100μm (c)500μm (d)1000μm陣列式奈米鑽石氣體感測器元 件 圖4.3-11 奈米鑽石薄膜與陣列式奈米鑽石氣體感測器元件,氮氣氣體在不同壓 力條件與崩潰電場的關係比較圖 圖4.3-12 經由量測氮氣後之奈米鑽石薄膜之FE-SEM俯視圖其壓力分別為(a) 未量測 (b) 1 torr (c) 50 torr (d) 100 torr (e) 200 torr (f) 300 torr (g) 400 torr (h) 500 torr (i) 600 torr (j) 760 torr 圖4.3-13 經由量測氮氣後之奈米鑽石薄膜之X射線光電子能譜儀之全譜分析 圖 圖4.3-14 不同間距指叉式奈米鑽石元件,光學顯微鏡俯視圖(a) 間距500μm, (b) 1000μm 圖4.3-15 1000μm間距指叉式電極奈米鑽石薄膜,光學顯微鏡俯視圖 圖4.3-16 不同間距指叉式奈米鑽石元件與指叉式電極奈米鑽石薄膜之I-V曲線 圖 (a)暗電流,(b)光電流 表目錄 表2.1-1 鑽石之物理與化學特性表 表2.1-2 鑽石、石墨與類鑽薄膜之性質 表3.2-1 奈米鑽石薄膜之成長條件 表3.3-1 準分子雷射系統基本條件 表3.3-2 奈米鑽石薄膜之成長條件 表3.4-1 奈米鑽石薄膜之成長條件 表3.4-2 奈米鑽石薄膜之成長條件 表4.1-1奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經準分子雷射退火後處理之UV拉 曼光譜,經由Origin軟體加以分析ID/IG關係對照表 表4.1-2 試片(一) 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經準分子雷射退火後處理之UV拉曼光譜(=325nm),經由Origin軟體加以分析各峰值面積關係比值對照表 表4.1-3 試片(二) 奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經準分子雷射退火後處理之UV拉曼光譜(=325nm),經由Origin軟體加以分析各峰值面積關係比值對照表 表4.1-4奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處理之X射線光電子能譜儀之元素百分比 表4.1-5奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處理之X射線光電子能譜儀之元素百分比 表4.1-6奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處理之X射線光電子能譜儀之碳 (C1s) 細部分析圖,經由Origin軟體加以分析sp3/sp2關係對照表 表4.2-1奈米鑽石薄膜經不同連續準分子雷射功率退火後處理之表面粗糙度 . 64 表4.2-2奈米鑽石薄膜未經準分子雷射退火及經不同準分子雷射功率退火後處理 之X射線光電子能譜儀之元素百分比 表4.3-1奈米鑽石薄膜與陣列式奈米鑽石薄膜元件,所量測之場發射起始電場 (E) 與場增強因子 (β) 的關係對照表 表4.3-2奈米鑽石薄膜與陣列式奈米鑽石氣體感測器元件,氮氣氣體在不同壓力 條件與崩潰電場的關係比較對照表 表4.3-3經由量測氮氣後之奈米鑽石薄膜之X射線光電子能譜儀之元素百分 比 表 4.3-4不同間距指叉式奈米鑽石元件與指叉式電極奈米鑽石薄膜暗電流及光 電流之電阻對照表

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